IEC 60068-2-1：2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫》
Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: Cold
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：IEC 60068-2-1：2007
發(fā)布單位或類別：國(guó)際組織-國(guó)際電工委員會(huì)（IX-IEC）
發(fā)布日期：2007-03-13
CCS分類：L60/69 電子元器件與信息技術(shù) - 計(jì)算機(jī)
ICS分類：19.040 試驗(yàn) - 環(huán)境試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
IEC 60068-2-1:2007適用于非散熱和散熱試樣的冷試驗(yàn)。對(duì)于非散熱標(biāo)本，測(cè)試Ab和Ad并不偏離早期的問(wèn)題。測(cè)試Ae主要用于需要在整個(gè)測(cè)試中運(yùn)行的測(cè)試設(shè)備，包括調(diào)節(jié)期。冷試驗(yàn)的目的是限制組件，設(shè)備或其他物品在低溫下使用，運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力的確定。本標(biāo)準(zhǔn)的冷試驗(yàn)不能使樣品在待評(píng)估的溫度變化中承受或操作的能力。在這種情況下，有必要使用IEC 60068-2-14。冷試驗(yàn)細(xì)分如下: - 非散熱試樣的冷試驗(yàn): *溫度逐漸變化，Ab; - 散熱試樣的冷試驗(yàn): *逐漸變化的溫度，Ad，*隨著溫度的逐漸變化，試樣動(dòng)力遍及，Ae。本標(biāo)準(zhǔn)中給出的程序通常用于在執(zhí)行測(cè)試過(guò)程中達(dá)到溫度穩(wěn)定性的樣品。溫度室根據(jù)IEC 60068-3-5和IEC 60068-3-7的規(guī)定進(jìn)行構(gòu)造和驗(yàn)證。
產(chǎn)品類別：電器